EP3605543
METHOD FOR DETECTING AN ATTACK BY A BUNDLE OF ELECTRICALLY CHARGED PARTICLES ON AN INTEGRATED CIRCUIT AND CORRESPONDING INTEGRATED CIRCUIT
Zusammenfassung
Le procédé de détection d'une attaque d'un circuit intégré (CI) par un faisceau de particules électriquement chargées (IB), comprend :- une réalisation dans le circuit intégré d'au moins un corps électriquement conducteur (MPL) et d'au moins un transistor d'état ayant une grille flottante (FG) électriquement couplée audit au moins un corps électriquement conducteur (MPL) ;- une configuration dudit au moins un transistor d'état (FGT) de façon à lui conférer une tension de seuil initiale ; et- une détection de ladite attaque par une détection d'une tension de seuil dudit au moins un transistor d'état (FGT) différente de la tension de seuil initiale. (FGT).
Anmelder
ST MICROELECTRONICS ROUSSET [FR]
Erfinder
MARINET FABRICE [FR]FORNARA PASCAL [FR]
Externe Quellen
Klassifikation
IPC-Klassen
G06F 21/75G11C 16/22H01L 23/00H10B 41/30
CPC-Klassen
G06F 21/755G09C 1/00G11C 16/10G11C 16/14G11C 16/22H04L 9/002H10B 41/30H10W 20/20H10W 42/40H10W 42/405
AI: ComputingSemiconductors
warum
ST Micro IC tamper detection — G06F21/75 + G11C16 + H01L23 + H10B41. Computing primary (security), Semiconductors secondary (the IC tamper-detect circuit). Rule agrees.